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模擬環(huán)境的十三種試驗(yàn)及滿足標(biāo)準(zhǔn)

環(huán)境測(cè)試 產(chǎn)品在使用過(guò)程中,有不同的使用環(huán)境(有些安裝在室外、有些隨身攜帶、有些裝有船上等等),會(huì)受到不同環(huán)境的應(yīng)力(有些受到風(fēng)吹雨濕、有些受到振動(dòng)與跌落、有些受到鹽霧蝕侵等等);為了確認(rèn)產(chǎn)品能在這些環(huán)境下正常工作,G標(biāo)、行標(biāo)都要求產(chǎn)品在環(huán)境方法模擬一些測(cè)試項(xiàng)目,這些測(cè)試項(xiàng)目包括: 

1、高溫測(cè)試(高溫運(yùn)行、高溫貯存); 

2、低溫測(cè)試(低溫運(yùn)行、低溫貯存); 

3、高低溫交變測(cè)試(溫度循環(huán)測(cè)試、熱沖擊測(cè)試); 

4、高溫高濕測(cè)試(濕熱貯存、濕熱循環(huán)); 

5、機(jī)械振動(dòng)測(cè)試(隨機(jī)振動(dòng)測(cè)試、掃頻振動(dòng)測(cè)試); 

6、汽車運(yùn)輸測(cè)試(模擬運(yùn)輸測(cè)試、碰撞測(cè)試); 

7、機(jī)械沖擊測(cè)試; 

8、開(kāi)關(guān)電測(cè)試; 

9、電源拉偏測(cè)試; 

10、冷啟動(dòng)測(cè)試; 

11、鹽霧測(cè)試; 

12、淋雨測(cè)試; 

13、塵砂測(cè)試; 

上述環(huán)境試驗(yàn)的相關(guān)G家標(biāo)準(zhǔn)如下(部分試驗(yàn)可能沒(méi)有相關(guān)G標(biāo),或者是還沒(méi)有找到): 

1、低溫試驗(yàn) 按GB/T2423.1—89《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分:試驗(yàn)方法低溫試驗(yàn)》;  GB/T2423.22—87《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分:試驗(yàn)方法溫度變化試驗(yàn)方法》 進(jìn)行低溫試驗(yàn)及溫度變化試驗(yàn)。溫度范圍:-70℃~10℃。  

 2、高溫試驗(yàn) 按GB/T2423.2—89《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分:試驗(yàn)方法高溫試驗(yàn)》;  GB/T2423.22—87《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分:試驗(yàn)方法溫度變化試驗(yàn)方法》 進(jìn)行高溫試驗(yàn)及溫度變化試驗(yàn)。 溫度范圍:10℃~210℃ 

 3、濕熱試驗(yàn) 按GB/T2423.3—93《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分:試驗(yàn)方法恒定濕熱試驗(yàn)》;  GB/T2423.4—93《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分:試驗(yàn)方法交變濕熱試驗(yàn)》 進(jìn)行恒定濕熱試驗(yàn)及交變濕熱試驗(yàn)。 濕度范圍:30%RH~100%RH

4、霉菌試驗(yàn)  按GB/T2423.16—90《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分:試驗(yàn)方法長(zhǎng)霉試驗(yàn)》進(jìn)行霉菌試驗(yàn)。 

5、鹽霧試驗(yàn) 按GB/T2423.17—93《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分:試驗(yàn)方法鹽霧試驗(yàn)》進(jìn)行鹽霧試驗(yàn)。 

6、低氣壓試驗(yàn) 按GB/T2423.21—92《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分:試驗(yàn)方法低氣壓試驗(yàn)》; GB/T2423.25—92《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分:試驗(yàn)方法低溫/低氣壓試驗(yàn)》;  GB/T2423.26—92《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分:試驗(yàn)方法高溫/低氣壓試驗(yàn)》; 進(jìn)行低氣壓試驗(yàn),高、低溫/低氣壓試驗(yàn)。試驗(yàn)范圍:-70℃~100℃0~760mmHg20%~95%RH。

7、振動(dòng)試驗(yàn) 按GB/T2423.10—95《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分:試驗(yàn)方法振動(dòng)試驗(yàn)》進(jìn)行振動(dòng)試驗(yàn)。 頻率范圍(機(jī)械振動(dòng)臺(tái)):5~60Hz(定頻振動(dòng)5~80Hz),**大位移振幅3.5mm(滿載)。頻率范圍(電磁振動(dòng)臺(tái)):5~3000Hz,**大位移25mmP-P。

8、沖擊試驗(yàn) 按GB/T2423.5—95《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分:試驗(yàn)方法沖擊試驗(yàn)》進(jìn)行沖擊試驗(yàn)。沖擊加速度范圍:(50~1500)m/s2。

9、碰撞試驗(yàn) 按GB/T2423.6—95《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分:試驗(yàn)方法碰撞試驗(yàn)》進(jìn)行碰撞試驗(yàn)。  10、跌落試驗(yàn) 按GB/T2423.7—95《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分:試驗(yàn)方法傾跌與翻到試驗(yàn)》; GB/T2423.8—95《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分:試驗(yàn)方法自由跌落試驗(yàn)》進(jìn)行跌落試驗(yàn) 三箱冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī) 

  • 可程式恒溫恒濕機(jī)
  • 高低溫/低氣壓試驗(yàn)箱
  • 快速溫度變化試驗(yàn)箱
  • 甲醛釋放量檢測(cè)氣候箱
  • 鹽水噴霧試驗(yàn)機(jī)
  • 紫外耐候試驗(yàn)箱
  • 氙燈耐候試驗(yàn)箱
  • 電動(dòng)振動(dòng)試驗(yàn)機(jī)
  • 電腦控制機(jī)械式振動(dòng)試驗(yàn)機(jī)
  • 單翼氣動(dòng)式跌落試驗(yàn)機(jī) 
  • 碰撞試驗(yàn)臺(tái)
  • 沖擊試驗(yàn)臺(tái)